Перейти на главную страницу
Поиск по сайту

Инструкцияпо использованию easy jtag - Вопросы, связанные с JTAG

Если Вы применяли какие-либо инструменты, использующие JTAG, то Вы уже знакомы с этим интерфейсом. Например, процессоры часто используют JTAG для доступа к своим отладочным функциям, также все ПЛИС используют JTAG для перепрограммирования.

Интерфейс JTAG? — Это очень просто! / Хабрахабр

JTAG — это НЕ ТОЛЬКО отладка процессоров. Название JTAG чаще всего ассоциируется с инструментами отладки и перепрограммирования микросхем. Однако, в этих инструментах реализована только часть возможностей JTAG. Эта часть возможностей, известная под названием Test Access Port или, сокращённо, TAP, является частью стандарта IEEE Std.

Стандарт также не предусматривает разработку использование специфических функциональных тестов. Изначально TAP был разработан только для взаимодействия с дополнительными регистрами, специально вставляемыми в микросхему с целью реализации данного метода тестирования. Однако достаточно быстро производители микросхем заметили потенциал использования TAP и для других целей, например, для доступа к регистрам, предназначенным для отладки и перепрограммирования микросхем.

Z3X jtag расскажите что и как) - www.kimberleyjochl.com GSM Форум

Теперь в микросхемы добавляется специальный регистр для тестирования через JTAG под названием Boundary Scan Register BSR. По этой причине тестирование через JTAG часто называют пограничным сканированием boundary scan. Ячейки регистра пограничного сканирования Boundary Scan Register могут работать в одном из двух режимов: Тестирующий режим используется для управления значениями на контактах корпуса микросхемы и в соответствующих цепях печатной платыа также для считывания значений с подключённых цепей печатной платы.

Механизм управления и наблюдения за контактами корпуса микросхемы через четырёх-контактный TAP, JTAG интерфейс позволяет получить низкоуровневый доступ к контактам микросхемы для физического тестирования печатной платы. Существует два способа тестирования печатной платы при помощи пограничного сканирования boundary scan.

Первый способ — тест соединений connection test. Он даёт хорошее покрытие, особенно для поиска таких неисправностей, как замыкания. Этот способ использует только возможности микросхемы с поддержкой JTAG, при этом тестируются соединения например, пропайки и цепи, а в случае применения системы XJTAG, тестируются ещё и логические функции платы. Второй способ — использование микросхемы с поддержкой JTAG для взаимодействия с микросхемами без поддержки JTAG, такими как DDR RAM или Flash память.

Тест соединений connection test проверяет, соответствует ли изготовленная печатная плата исходному проекту, а также наличие на ней не предусмотренных проектом разрывов цепей или лишних замыканий. Если согласно проекту какие-то контакты микросхемы должны быть соединены где-то на плате, то можно проверить факт наличия соединения, подавая значения на один из контактов и считывая с. Если согласно проекту контакты микросхемы НЕ соединены, то можно проверить, нет ли между ними лишнего замыкания, подавая на один из них значения и проверяя, что на остальные это не влияет.

Это также делается путём выставления на контактах определённых значений и сравнения считанных значений с заданной таблицей истинности. Система XJTAG на основе нетлиста печатной платы информации, считанной с поддерживающих JTAG микросхем, полностью автоматически генерирует тестовые вектора для проведения теста соединений connection test всей платы.

Как правило, основные микросхемы на плате, такие как процессоры и ПЛИС, поддерживают JTAG, но существует множество вспомогательных микросхем, которые JTAG не поддерживают. Как пример можно привести такие микросхемы, как ЦАП, АЦП, DDR, SDRAM, SRAM, Flash, Ethernet контроллеры, температурные сенсоры, генераторы частот и многое другое.

Тест соединений connection test позволяет проводить тестирование на замыкания цепей между микросхемами с поддержкой JTAG и микросхемами без поддержки, при этом достигается хорошее покрытие. Однако протестировать обрывы в таких цепях уже не получится. С целью тестирования на наличие обрывов цепей между микросхемами с поддержкой JTAG и микросхемами без таковой, требуется использовать так называемые функциональные тесты. Если функциональные тесты пройдены, то это означает, что обрывов быть не.

Функциональные тесты могут быть как очень простыми, например, включение светодиода и ожидание подтверждения от оператора, что светодиод действительно загорелся, так и посложнее, например, запись данных в память, считывание их же и сравнение считанных данных с ожидаемыми. При помощи библиотеки тестов для стандартных микросхем без поддержки JTAG, поставляемой с системой XJTAG, возможна подготовка и запуск набора функциональных тестов без необходимости программирования.

Библиотека тестов содержит тесты как для простых элементов, таких как резисторы и буферные элементы, так и для сложных микросхем, таких как память DDR3 и так далее. Как правило, в печатную плату не требуется вносить никаких изменений, так как большинство плат уже содержат JTAG контакты для отладки процессоров или программирования ПЛИС. Для тестирования печатной платы при помощи пограничного сканирования boundary scan требуется для каждой микросхемы с поддержкой JTAG скачать с сайта производителя микросхемы так называемый BSDL-файл — Boundary Scan Description Language.

Это текстовый файл, описывающий назначения ножек корпуса микросхемы. Одним из важнейших преимуществ тестирования через пограничное сканирование boundary scan является тот факт, что из дополнительного оборудования требуется только JTAG контроллер.

Другие технологии тестирования, такие как летающие щупы flying probeрентгеновское сканирование, многозондовое тестирование bed-of-nails и так далее требуют наличия дорогостоящего оборудования, которое не всегда доступно.

Эти же тесты, разработанные при проектировании, могут быть использованы и на производстве. Во многих случаях использование пограничного сканирования boundary scan позволяет вообще отказаться от применения испытательного стенда, а в остальных случаях подойдет и значительно более простой и дешёвый стенд.

Использование пограничного сканирования boundary scan позволяет ускорить подготовку теста для каждого проекта, при том, что покупка дорогостоящего тестового оборудования теперь не требуется. Так как разные микросхемы процессоры и ПЛИС взаимодействуют с периферией разными способами, разработка традиционного функционального теста отдельно для каждой платы является очень затратной.

Пограничное сканирование boundary scan существенно сокращает стоимость разработки тестов благодаря упрощённому способу управления контактами корпуса микросхемы для взаимодействия с остальными компонентами на плате.

А унифицированный интерфейс JTAG позволяет формировать отдельные тесты как библиотечные элементы использовать их в разных проектах вне зависимости от применяемых микросхем с поддержкой JTAG. JTAG часто применяется для программирования микросхем ПЛИС на плате в процессе производства.

А если к программированию дополнительно добавить тестирование платы через так называемое пограничное сканирование boundary scanто получится существенно сэкономить время и упростить производство. Обычно для тестирования изделий на производстве применяется большое дорогостоящее оборудование.

Всё, что требуется для применения пограничного сканирования boundary scan через JTAG — это контроллер XJLinkразмерами сопоставимый с компьютерной мышью. Пограничное сканирование boundary scan через JTAG, в отличие от специально разработанных функциональных тестов, позволяет получать информацию о точном месте возникновения неисправности, что очень помогает при восстановлении платы.

А применение системы XJTAG ещё и позволяет визуализировать место неисправности на плате и указать точное место в принципиальной схеме. Пограничное сканирование boundary scan через JTAG можно использовать на плате, где не работает ничего, кроме самого JTAG интерфейса.

Если плата не включается, то провести традиционные функциональные тесты не получится. Простейшая неисправность в таких элементах на плате, как память или генератор синхросигнала не позволят применить функциональный тест, но легко обнаруживается при помощи JTAG. Find out how XJTAG can help you test your PCB faster From Prototype To Manufacture. Компания XJTAG является разработчиком и поставщиком профессиональной системы, работающей через пограничное сканирование JTAGкоторая предназначена для тестирования, отладки и программирования электронных систем.

Компоненты комплекса XJTAG работают по стандарту IEEE ЧАВО Видео Как приобрести Демо-образец. Продукты Программное обеспечение JTAG XJDeveloper XJInvestigator XJAnalyser XJRunner XJTAG DFT Assistant Аппаратное обеспечение JTAG XJLink2 — USB JTAG Контроллер Featured Capabilities Layout Viewer Schematic Viewer Сравнение продуктов Close Примеры О компании О компании XJTAG Пресс-релизы Close Поддержка Введение в JTAG Что такое JTAG?

Что такое JTAG и как я могу использовать это для тестирования печатных плат?

Что такое JTAG и как я могу использовать это для тестирования печатных плат? Скачать в формате PDF. Want to be the first to know of new eBooks and JTAG Resources? Подробнее о стандарте JTAG Что такое JTAG? Обзорное руководство по JTAG Техническое руководство по JTAG Рекомендации по повышению покрытия тестами Поддержка Связаться со службой технической поддержки.

Продукты Программная часть Аппаратная часть Возможности Интеграция со сторонними системами Как приобрести Частые вопросы. Part of Cambridge Technology Group.

The XJTAG websites use cookies to improve your experience.


Другие статьи на тему:



 
Copyright © 2016-2017
www.kimberleyjochl.com